Химико-аналитическая лаборатория

Химико-аналитическая лаборатория предоставляет услуги по анализу химического состава материалов. 

Наш телефон 8 (3852) 60-91-85 ЗВОНИТЕ! 

Будем рады видеть Вас в числе наших клиентов!

Лаборатория оснащена аттестованным в установленном порядке современным испытательным оборудованием и поверенными средствами измерений, необходимыми для проведения испытаний в соответствии с требованиями стандартов.

Рентгенофлуоресцентный анализатор X-MET 7500

X-MET 7500 - современный портативный рентгенофлуоресцентный анализатор материалов с возможностью анализа элементов от Mg до U.

Технические характеристики X-MET 7500:

  • SDD детектор высокого разрешения и рентгеновская трубка производства Oxford Instruments: родиевый анод, напряжение 45кВ, ток 50 мА
  • Диапазон измеряемых элементов: от Mg до U.
  • Анализ легких элементов (Mg, Al, Si, P и S) без продувки гелием или вакуумизации.
  • Время измерения – 2 сек. для идентификации сплава, 5 сек. для анализа примесей <0.1%.
  • Время выхода в режим готовности от включения  < 20 сек.
  • Возможность анализа металлов на любой основе (например Pb, Zn, Au, W и др.), сложных высоколегированных сплавов, спецсплавов, драгметаллов, ферросплавов.
  • Анализ объектов любых форм и размеров: проволока, фольга, порошок, стружка,сварные швы.
  • Возможность анализа металлов, руд, почв, пластиков и пр.
  • Автоматическая коррекция концентраций при измерении образцов малых размеров и сложных форм.
  • Функция рекалибровки по одной точке.
  • Возможность уменьшения зоны анализа при помощи специального адаптера.
  • Встроенный марочник металлов и сплавов, возможность корректировки и добавления марок.
  • Диапазон рабочих температур: -20°C to +50°C;
  • Класс пыле-влогозащиты IP54;
  • Вес 1,5 кг

 

Дефрактометр рентгеновсуий общего назначения «ДРОН-6»

Аппарат является аналитическим инструментом для решения научных и прикладных задач в области рентгенодифракционного анализа поликристаллов и ряда задач монокристальной дифрактометрии. Управление дифрактометром, сбор данных и обработка результатов измерений осуществляется с помощью ПК.

Техника рентгеновской дифракции обладает широкими возможностям неразрушающего контроля многослойных эпитаксиальных структур. К достоинствам метода относятся: простота реализации, неразрушающий характер анализа по глубине и высокая информативность.

Основные виды измерений:

  • спектры (θ-2θ)- сканирования с движением образца и детектора, шаг кратный 0,001° по углу 2θ;
  • запись кривых качания, спектр ω-сканирования с широкой щелью перед детектором шаг кратный 0,0005°;
  • уточнение брегговских углов 2θ, спектр θ-сканирования с неподвижным образцом.

Основные виды выполняемых анализов:

  • Определение кристаллографической ориентации кристаллических срезов и взаимной ориентации слой - подложка.
  • Определение состава, концентрации твердого раствора и толщин слоев в нерелаксированных гетероструктурах методом подгонки вычисленного по динамической теории рассеяния спектра к экспериментальному.
  • Определение состава, концентрации твердого раствора, оценка толщины слоев и остаточных упругих напряжений в частично релаксированных гетероструктурах по положению пиков двух отражений.